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全新的 NI PXIe-4143 電源量測單位 |
‧ 全新的 NI PXIe-4143 電源量測單位 (Source Measure Unit,SMU) 具有市面上最高的通道密度,取樣率也是數一數二,極適合用於多針腳半導體裝置的平行測試。
‧ 全新的 SMU 搭載 NI SourceAdapt 技術,方便工程師針對各種待測裝置 (Device Under Test,DUT) 負載來客制微調 SMU 響應。
‧ NI 工程師即將在 7 月 10 日至 12 日於美國舊金山 Semicon West 展覽北棟第 6360 號攤位展示最新的 SUM。
NI推出新的 PXI SMU 系列產品,適用於自動化半導體測試。全新的 NI PXIe-4143 SMU 每秒取樣率為 600,000,具有 4 個通道,堪稱通道密度最高的 SMU,非常適合多針腳半導體待測裝置的平行測試,並且能以 150 mA 將 NI 的多通道 SMU 輸出範圍提高至 24 V。這些功能有助於降低主要設備的成本、縮短測試時間,同時針對各種待測裝置提高混合訊號的測試彈性。
「有了全新的 NI PXIe-4143,現在我們的 SMU 系列可讓工程師針對幾乎各種裝置進行 DC 量測」,NI 半導體測試副理 Ron Wolfe 表示:「我們的通道數量領先,再加上優異的取樣率與可客制微調的 SourceAdapt 技術,因此打造出最具彈性的半導體量測儀器。」
【產品特色】
‧ 4 個 SMU 通道,取樣率高達 600 kS/s 以便量測快速暫態響應
‧ 以 150 mA 提供 24 V 的 4 象限輸出功能,補足現有的 NI SMU 汲極 (sinking) 與源極 (sourcing) 功能
‧ 量測敏感度為 10 pA
‧ 富有彈性的精簡 PXI 模組化儀器架構,適合小型設備佈署