長期演進（LTE）測試設備之全球供應商Aeroflex宣布為其彈性、模組化的PXI 3000平台新增LTE量測功能，新功能將使生產測試工程師能達到更快的RF零組件及LTE使用者設備的量產時程。新解決方案並提升了Aeroflex之LTE測試經歷，以及PXI 3000系列平台在手機製造上經驗證的良率及產能優勢。

Aeroflex PXI 3000系列模組測試平台。

Aeroflex PXI 3000最新的測量套件選項，適合生產及測試系統工程師使用，使他們可用低成本的模組化PXI儀器來為LTE終端、晶片組和射頻零組件進行特性描述。在同一元件中，LTE終端將具備與依循舊有標準之LTE的共存性。能在單一測試平台中支援多種蜂巢式標準，便是提升良率及縮短測試時間的關鍵。

新量測套件藉由Aeroflex的IQCreator軟體之新LTE波形產生功能而補足，其可支援PXI 3000系列以及Aeroflex 3410系列的桌上型(bench-top)數位RF訊號產生器，因此是LTE射頻零組件測試的理想選擇。

Aeroflex的PXI3000和7100平台有許多共同點，因此可簡化從研發到製造的移轉過程。同樣的軟體演算法可為兩個平台提供支援，並達到可比擬的RF效能，因此由研發工程師所採用的設備，將提供與在工廠量測具有高度相關性的結果，如此將可去除當儀器型式表現差異所引起的延遲，其將需要費時的故障排除工作來克服差異。

全球即將針對LTE網路的部署，以及預期4G服務所帶來的強大消費需求，代表量產製造的提升必須由彈性的測試解決方案所支援以強化產能。PXI 3000平台透過縮減測試時間和成本達到此目的，其能使未來的產能得以擴張，同時維持與在研發系統中可比擬的效能與精準度。