帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
宜特引進全台獨家高溫/高電場誘發閘極漏電實驗
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎報導】   2010年08月30日 星期一

瀏覽人次:【11911】

宜特科技宣布,目前已引進高溫/高電場誘發閘極漏電實驗,是台灣首家引進此服務項目之獨立實驗室。此項目為國際汽車電子協會針對IC可靠度必測項目。

在實務中,無鉛製程溫度即比錫鉛製程溫度高30℃~40℃,此為高溫環境。而為了滿足無鉛高溫組裝需要,SMT機台廠商亦以增加機台熱區以及加大電熱能來因應,使得電場環境較以往嚴苛,因此高溫加上高電場而誘發了積體電路閘極漏電現象逐漸增加。

近幾年隨著IC製程演進,複雜度不斷上升,加上大多數IC設計公司為了擴大應用領域及降低成本不斷進行Die Shrink,此舉亦使得閘極漏電現象發生機率增加。部分研究顯示閘極漏電現象發生在高壓元件上較多;車用電子在高壓/高溫環境下閘極漏電現象之比例更高,因此國際汽車電子協會將此實驗納入IC可靠度必測項目之ㄧ。宜特科技除已具備多年IC可靠度經驗外,亦於今年自行開發完成電場/高溫誘發閘極漏電實驗能力建置,同時也已提供國內/外客戶試驗需求。

關鍵字: IC驗證  宜特科技 
相關產品
宜特研究Creep Corrosion再下一城,推出濕硫磺蒸氣(FOS)試驗
宜特完成28奈米IC電路修改除錯技術
宜特正式提供EPEAT環保標章申請輔導與檢測項目
宜特輔導業界整合產品品質與有害物質管理系統
宜特科技引進高承載/大位移振動試驗新登場
  相關新聞
» 筑波科技攜手LitePoint共創5G、Wi-Fi 7、UWB無線通訊新境界
» 安立知以全方位無線通訊方案引領探索6G時代
» 意法半導體突破20奈米技術屏障 提升新一代微控制器成本競爭力
» Pure Storage攜手NVIDIA加快企業AI導入 以滿足日益成長的需求
» ROHM推SOT23封裝小型節能DC-DC轉換器IC 助電源小型化
  相關文章
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 開啟邊緣智能新時代 ST引領AI開發潮流
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協
» 迎接數位化和可持續發展的挑戰

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.44.200.65.174
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw