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宜特引進全台獨家高溫/高電場誘發閘極漏電實驗
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎報導】   2010年08月30日 星期一

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宜特科技宣布,目前已引進高溫/高電場誘發閘極漏電實驗,是台灣首家引進此服務項目之獨立實驗室。此項目為國際汽車電子協會針對IC可靠度必測項目。

在實務中,無鉛製程溫度即比錫鉛製程溫度高30℃~40℃,此為高溫環境。而為了滿足無鉛高溫組裝需要,SMT機台廠商亦以增加機台熱區以及加大電熱能來因應,使得電場環境較以往嚴苛,因此高溫加上高電場而誘發了積體電路閘極漏電現象逐漸增加。

近幾年隨著IC製程演進,複雜度不斷上升,加上大多數IC設計公司為了擴大應用領域及降低成本不斷進行Die Shrink,此舉亦使得閘極漏電現象發生機率增加。部分研究顯示閘極漏電現象發生在高壓元件上較多;車用電子在高壓/高溫環境下閘極漏電現象之比例更高,因此國際汽車電子協會將此實驗納入IC可靠度必測項目之ㄧ。宜特科技除已具備多年IC可靠度經驗外,亦於今年自行開發完成電場/高溫誘發閘極漏電實驗能力建置,同時也已提供國內/外客戶試驗需求。

關鍵字: IC驗證  宜特科技 
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