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Tektronix發表SuperSpeed USB測試工具
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍報導】   2008年11月25日 星期二

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Tektronix近日發表完善的USB 3.0規格測試組。此高速串列資料產品可讓客戶快速測試SuperSpeed USB 設計。

根據估計,初期的SuperSpeed USB介面IC與消費性產品應在2010年初推出,並在這一年普及。首批SuperSpeed USB產品很可能包含資料儲存裝置,例如,隨身碟、外接式硬碟、數位音樂播放機和數位相機。緊接著是視訊產品,最後則是需要高資料處理量的資料擷取系統。

SuperSpeed USB將和8 Gb/s PCI-Express與SATA 6 Gb/s等其他高速串列標準一樣,成為要求極高的技術之一,需要用到先進的測試與量測儀器。Tektronix的USB 3.0 試解決方案包含:(1)DSA71254 12GHz或更高頻寬的示波器,執行發射器測試;(2)含USB 3.0安裝檔案和傳輸通道模擬的DPOJET,執行驗證和偵錯;(3)即時串列資料連結分析(SDLA)軟體,執行發射器通道模擬;(4)具有接收器測試模式和接收頻道模擬的AWG7102,執行接收器測試;(5)DSA8200取樣示波器和iConnect軟體,執行互連測試。

關鍵字: USB 3.0  示波器  Tektronix(太克
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