安捷倫科技（Agilent）發表首款基於時域的光學調變分析儀，其可深入分析經振幅與相位調變的光學信號。此款光學測試儀器，是與安捷倫實驗室Agilent Labs共同開發而成。這是一款結合大頻寬、多偏振相干光接收器技術、Agilent 89600向量信號分析軟體（VSA）、以及安捷倫高速即時資料蒐集設備Infiniium 90000系列示波器為基礎的測試儀器。

安捷倫將於3月23-26日，在加州聖地牙哥會議中心舉辦的OFC/NFOEC 2009展覽會1719號攤位上展示Agilent N4391A光學調變分析儀。該儀器是第一款基於時域分析的相干偵測系統，其提供一個彈性最高的統包解決方案（turn-key solution），可深入分析經振幅與相位調變的光學信號，讓科學家和工程師得以迅速檢驗他們的設計。

隨著網際網路的廣泛建置，市場對於傳輸能力的要求不斷地提高。這個現象促使現今的10 Gb/s傳輸速率，在未來幾年內提升到40 Gb/s和100 Gb/s。光學產業所面臨的挑戰是，如何讓100 Gb/s的傳輸速率能夠配合傳統的50 GHz ITU-T通道光柵。克服該挑戰唯一的方法，就是結合無線與RF微波領域複雜的調變技術，因為該技術在20年前以較低的資料速率解決了這個問題。解決方法是利用先進的光學調變模式來處理大量的資訊，以減少所需的收發器頻寬。

先進的光學調變模式，包含了振幅、相位和極化資訊。為了開發新的光發射器和光接收器，有必要分析這些信號在兩個正交極化狀態下的振幅與相位行為。現有的測試儀器只能分析光學信號的振幅，因而在測試儀器市場留下了一個缺口。Agilent N4391A光學調變分析儀提供了一些新的分析工具，例如解調信號的衛星平面顯示，以及可比較錯誤與理想信號的差錯向量幅度（Error Vector Magnitude, EVM）分析，正好可以彌補這個缺口。