帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
創惟與百佳泰電腦合作 通過OTG產品相容性測試
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍報導】   2006年08月03日 星期四

瀏覽人次:【8566】

高速I/O通訊廠商—創惟科技,宣佈其USB High Speed OTG儲存晶片(產品代號: GL824)於日前委託百佳泰電腦所進行之產品相容性測試,已收到完整測試報告並正式通過此嚴格測試。

百佳泰電腦(Allion Computer Inc.)為IT產品測試服務之獨立測試及認證機構,為世界各地IT產品之研發、製造與品牌廠商提供具有競爭優勢的測試與認證服務。它是由USB-IF所正式授權USB-IF Compliance Program中的一員,與USB Implementer's Forum已合作多年,並已被正式認證可提供USB-IF的測試服務。

USB認證屬百佳泰所管理的logo認證測試方案之一。百佳泰所建立的測試環境,提供創惟科技一個方便、高效率、低成本的選擇方案,並確保創惟的產品能夠充分的被加以整合。百佳泰所提供的”real-world methodologies”與基準測試已經成為全球標準,品質保證更是測試過程的一部分。所有的測試過程與結果都經過三層複查,以保證客戶得到最精確、可靠並正確的結果。

創惟科技表示,該公司的USB High Speed OTG儲存晶片是國內第一家自行研發且率先獲得USB Hi-Speed OTG認證的產品。創惟科技因應客戶在OTG產品上對USB裝置的高相容性要求,委託百佳泰針對市面上各大廠牌的數位相機、數位攝影機、隨身碟、MP3播放器及外接式硬碟裝置作了嚴格的功能及相容性測試,此測試結果也象徵創惟OTG產品優秀的品質以及相容性無虞。

關鍵字: 創惟科技  百佳泰電腦 
相關產品
創惟推出整合USB Type-C的USB 3.1 Gen 1集線器控制晶片
創惟發表USB 3.0讀卡機控制晶片 搭配意法NFC讀寫器ST95HF解決方案
創惟科技於CES 2011展示全系列USB 3.0產品應用
IDF2010:創惟展示USB 3.0與HUB產品應用
創惟科技發表USB 2.0 to SATA/PATA橋接控制IC
  相關新聞
» 豪威集團推出用於存在檢測、人臉辨識和常開功能的超小尺寸感測器
» ST推廣智慧感測器與碳化矽發展 強化於AI與能源應用價值
» ST:AI兩大挑戰在於耗能及部署便利性 兩者直接影響AI普及速度
» 慧榮獲ISO 26262 ASIL B Ready與ASPICE CL2認證 提供車用級安全儲存方案
» 默克完成收購Unity-SC 強化光電產品組合以滿足半導體產業需求
  相關文章
» SiC MOSFET:意法半導體克服產業挑戰的顛覆性技術
» STM32MP25系列MPU加速邊緣AI應用發展 開啟嵌入式智慧新時代
» STM32 MCU產品線再添新成員 STM32H7R/S與STM32U0各擅勝場
» STM32WBA系列推動物聯網發展 多協定無線連接成效率關鍵
» 開啟邊緣智能新時代 ST引領AI開發潮流

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.18.190.153.77
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw