惠瑞捷(Verigy) 宣佈推出V6000測試系統，可在同一套自動化測試設備 (ATE) 機台上，測試快閃和DRAM記憶體，測試成本低於現有的解決方案。多功能的V6000可調整適用於半導體記憶體的各個測試階段，包括工程測試、晶圓測試 (Wafer Sort)、以及終程測試 (Final Test) 等。以供應各種記憶體解決方案的記憶體製造商Numonyx經過多方的評估比較後，證實已經選中V6000，從事NAND元件和良品裸晶 (KGD) 的大量晶圓測試。V6000機台具備的並行測試能力、性能、以及低測試成本是這套系統脫穎而出的主要原因。

所有的V6000系統皆採用惠瑞捷專利申請中的Active Matrix技術，以及第六代的Tester-Per-Site架構，兩者搭配可提極低的測試成本。Active Matrix技術能進行大規模的並行測試，支援的I/O Pin超過18,000個，可程控電源供應Pin亦超過4,000個，且因大幅縮短通往腳端介面電路 (Pin Electronics) 的信號路徑，而能提供極佳的信號完整性 (Signal Integrity)。相較於傳統的記憶體自動化測試設備架構，V6000可提供四倍的並行測試能力，每支腳位的測試成本卻只要原本的一半。V6000具備可擴充的交流測試效能，速度涵蓋140、280、560、到最高880 Mbps。