由於市場比以往更投入高速光通訊和資料通訊的開發，以因應像智慧型手機、平板電腦和視訊應用等需大量頻寬測試的不斷快速需求。資通研究人員和設計人員也同樣需要高速測試設備，分析和測試光學和串列介面的特性，通常他們採用每通道10到32 Gb/s資料速率的多通道儀器。

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Tektronix 日前宣佈，一系列新的高速碼型產生器和誤碼檢測器，可支援高達32 Gb/s的光通訊和串列資料通訊測試。PPG3000系列碼型產生器和PED3000系列誤碼檢測器具有多通道碼型產生與使用者自定碼型編程功能，適用於類似100 G乙太網路這類的特定標準，多達4通道進行特殊的訊號品質範圍測試(Margin Test)。

對測試相干性光調變格式 (如DP-QPSK)，PPG3000系列可以其4相位對齊的通道搭配Tektronix OM4000系列光波相干性訊號分析儀使用，使光學設計人員即時優化和驗證相干性調變格式。

對誤碼率測試，PED3000系列可結合PPG3000功能，提供高達32 GB/s誤碼率分析與多通道支援，以便快速識別常見的多通道資料通訊架構的串音問題。例如，IEEE802.3ba標準測試，設計人員可以模擬4×28 G測試平台，為他們的接收器設計進行壓力測試。32 Gb/s的資料率輸出與抖動調整插入能力，使設計公司擁有業界最好的邊際功能、更高的產量和最佳的終端產品或晶片效能，順利將其產品推向市場。