台積電日前宣佈該公司符合汽車電子AEC-Q100第一級（AEC-Q100 grade1）高規格要求之0.25微米嵌入式快閃記憶體製程，在2009年，部分客戶產品的實際行車故障率（field failure rate）已達到低於千萬分之一（<0.1ppm）的極高水準。

考量每個產品在測試篩選過程中，其資料寫入及消除（endurance cycles）及資料保存（data retention）能力的測試數量相當有限的情況下，實際行車故障率低於千萬分之一的表現，在嵌入式快閃記憶體產品領域顯得十分卓越。AEC-Q100第一級規範確保汽車電子積體電路產品能夠承擔10,000次的資料寫入及消除，並能在攝氏零下40度的低溫到125度的高溫範圍內正常運作。

台積電嵌入式快閃記憶體業務開發處處長林振銘指出，該公司以0.25微米嵌入式快閃記憶體製程為汽車電子應用客戶產出高達60萬片八吋晶圓，同時建立產品壽命及品質的高規格標準，彰顯台積電對汽車電子產業堅實不變的承諾。