半導體測試設備供應商愛德萬測試（Advantest）發表最新高速I/O（HSIO）卡「Pin Scale Multilevel Serial」，專為V93000 EXA Scale ATE平台設計，此為EXA Scale HSIO卡，也是第一款為滿足先進通訊介面之訊號需求而推出的高度整合的HSIO ATE卡。

愛德萬測試推出高度整合的HSIO ATE卡「Pin Scale Multilevel Serial」，滿足先進通訊介面之訊號需求。

在運算領域已普遍採用的HSIO介面，也使用在HDMI、DisplayPort和USB等消費性介面。在運算領域，PCI Express（PCIe）5.0與6.0正朝數千兆位元資料傳輸率邁進，當企業針對微控制器、行動應用處理器、高效能運算和人工智慧（AI）元件等大量數位設計及其介面進行測試時，需要以HSIO來應對這些高密度設計。因此，對於新元件設計的特性分析及元件初期製生產階段來說，HSIO測試至關重要。

Pin Scale Multilevel Serial支援最高32Gbps的資料傳輸率，也是首款全面高度整合的ATE卡，能夠支援高速介面中逐漸普遍的多階信號技術（例如PAM4）。由於可直接採用數位測試中典型的程式架構，進而減少測試程式開發的時間與成本，可以在新晶片設計生產初期提供額外測試覆蓋率。

一般相關產品都需要在測試頭頂端和待測物（DUT）間加入整合機制，但是會削弱訊號效能、不利製造整合。Pin Scale Multilevel Serial可全面整合，容易配置到EXA Scale平台上。Pin Scale Multilevel Serial目前正接受多家主要客戶初步評估，愛德萬測試即將開放預訂。