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如何设计/优化/测试多通道高速介面接收端与发射端讯号品质
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【课程简介】:
     在今日世界里,高速讯号的应用在各种电子装置中随处可见。特别是各种最新的介面标准,包括MIPI C-PHY v2.0、MIPI D-PHY v3.0、DDR5、HDMI v2.1、PCI Express Gen 4、等各种新标准,纷纷透过更高的速度来传送讯号,满足消费市场的需求。然而更快的讯号介面也为测试带来了全新的挑战。
     本活动将深度介绍Introspect Technology所设计的高速多通道误码测试仪,其所提供的信号完整性以及结合多种创新技术,可针对复杂的多通道链路进行测试,协助研发与验证团队解决各种高速讯号介面标准的验证挑战。高速多通道误码测试仪拥有多通道码型产生能力以及码型侦测器,搭配强大的底层控制能力与弹性的操作软体,使其成为研发实验室中不可或缺的一部分,而便於携带的体积更让这台误码仪的应用场景延伸到系统应用端。
     
●活动名称:
     如何设计/优化/测试多通道高速介面接收端与发射端讯号品质

     
●活动时间:
     2020年11月03日(二)上午10:30~11:45(研讨会60分钟、会後15分钟QA)

     
●主讲人:Steven Chiang 资深产品应用经理
     ●Steven Chiang 是一位高速讯号测试专家,在SerDes产品的测试与验证方面拥有超过15年的经验,如PCIe、高速SerDes以及MIPI的C-PHY与D-PHY。
     作为一名应用工程师,他接触过各种高速介面的测试场景,对於物理层的相关设计验证与测试挑战,已经累积出许多非常有价值的专业经验,也协助许多客户成功的开发高速介面产品和完成各项相关的功能测试验证。
     

     

【課程費用】: 此为免费课程


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