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讨论新闻主题﹕Mentor与Teradyne推出ATE-Connect测试技术 大幅缩短晶片除错与测试上线时间

新闻 提要
Mentor今天宣布，在其Tessent SiliconInsight 产品中针对IC除错与测试上线(bring up)推出ATE-Connect?技术。 ATE-Connect技术开创了业界标准的介面，可免除与专有、测试机台特定软体以及可测试性设计(DFT)平台间的通讯障碍。新技术可加速 IJTAG元件的除错，有助於加速产品量产，并缩短5G无线通讯、自动驾驶和人工智慧产品的上市时间。此外，Mentor还宣布，Teradyne的 UltraFLEX测试解决方案透过其PortBridge 技术可完全支援新的 Mentor介面。 尽管业界广泛采用IJTAG(IEEE 1687)测试架构进行晶片级测试，但许多公司仍采用非常不同的方法把晶片级测试向量转换为测试机台格式，以及用於自动测试设备(ATE)的除错测试

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