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讨论新闻主题﹕芯测科技提供车用晶片记忆体测试专用演算法

新闻 提要
芯测科技（iSTART）提供车用晶片记忆体测试专用演算法，透过可配置性设定，协助使用者经过简单的设定，即可快速的产生记忆体测试与修复电路。根据研究指出车用电子相关晶片大多使用Multi-Port（Two-Port和Dual-Port）的静态随机存取记忆体（SRAM）并且与车用电子相关程式多半以Burst Read和Write居多。因此芯测科技提出许多测试上述情况的车用电子专用演算法在记忆体测试电路开发环境中。 智慧型汽车对於安全行车、车联网、智慧化、电动化等先进科技的需求，加速车用电子日新月异的跃进，使得车上装置电子化程度日益提高。汽车制造商不断地追求更多功能、稳定且安全需求，以及通过ISO 26262功能性安全标准认证的SoC设计，来生产符合现今消费者需求的车款

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