<
账号：
密码：

讨论新闻主题﹕Microchip推出53100A型相位杂讯分析仪 用於精准振荡器特性分析

新闻 提要
Microchip今天发布新一代相位杂讯分析仪，产品型号为53100A。这款相位杂讯测试仪可协助研发人员和制造工程师更精确地测量频率讯号，包括由原子钟产生的讯号，以及由其他高频叁考模组和子系统产生的讯号。 新推出的53100A型相位杂讯分析仪专为工程师和研发人员设计。他们的工作高度仰赖对来自5G网路、资料中心、商用及军用飞机、太空飞行器、通讯卫星和计量测试应用的频率讯号进行精确测量。 这款全新的测试仪器能够检测高达200MHz的射频讯号，可快速捕获频率讯号，并对相位杂讯、频率抖动、艾伦偏差（ADEV）和时间偏差等进行快速而精确的特性分析。只需一台分析仪和几分钟时间，便可对特定频率的所有属性进行完整的特性分析

发表新主题
主题：
文章内容：
  确认码:  
  一般讨论区
一般讨论区
新闻报导论坛
Aktive besked forum
专栏评析
零組件科技論壇
產業新品中心
  應用論壇區
文章论述论坛
软件应用论坛
产品应用论坛
Microchip數位電源討論區─贏取大獎
  技术应用区
电子技术类：
计算机科技类：
网际科技类：
軟體資源類：
 
刊登廣告 ｜ 新聞信箱 ｜ 读者信箱 ｜ 著作權聲明 ｜ 隱私權聲明 ｜ 本站介紹
︱ Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29号11楼 / 电话 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw