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討論新聞主題﹕Tektronix推出高靈敏度、低雜訊的新款光學模組

新聞 提要
Tektronix(太克科技)為其DSA8300取樣示波器推出全新的光學模組。此模組具有高的遮蔽測試靈敏度和最低的雜訊，並配備了全新功能，可提升生產能力並改善當前100G設計投入生產的產量。Tektronix同時還推出了其400G測試解決方案的增強功能，包括IEEE乙太網路標準驅動的發射器和分散眼閉鎖(TDECQ) PAM4，以及針對光學測試的相關支援量測。 在2017年3月23日在加州洛杉磯所舉行的OFC 光學網路和通訊研討會和展覽上，太克科技展示全新的模組和功能，以及全套Tektronix 100G/400G光學特性分析和驗證解決方案。 Tektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示：「隨著100G設計投入生產，製造產量就變得至關重要

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