<
帳號：
密碼：

討論新聞主題﹕芯測科技提供便捷版記憶體測試方案EZ-BIST

新聞 提要
芯測科技(iSTART)為了協助客戶對智慧財產權領域規避嚴重失信的風險，日前推出最新便捷版記憶體內建式自我測試(MBIST)測試方案「EZ-BIST」，適用於MCU相關的系統晶片開發商。 採用芯測科技所提供低成本且高效率的記憶體測試開發工具，可協助客戶快速的開發產品，避免忽略記憶體測試的細節而導致產品良率下降，而其適用的應用如觸控屏、指紋辨識、語音辨識、馬達控制、家電控制、電子標籤等MCU相關的系統晶片。

發表新主題
主題：
文章內容：
  確認碼:  
  一般討論區
一般討論區
新聞報導論壇
活動消息論壇
專欄評析
零組件科技論壇
產業新品中心
  應用論壇區
文章論述論壇
軟體應用論壇
產品應用論壇
Microchip數位電源討論區─贏取大獎
  技術應用區
電子技術類：
電腦科技類：
網際科技類：
軟體資源類：
 
刊登廣告 ｜ 新聞信箱 ｜ 讀者信箱 ｜ 著作權聲明 ｜ 隱私權聲明 ｜ 本站介紹
︱ Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29號11樓 / 電話 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw