<
帳號：
密碼：

討論新聞主題﹕芯測科技提供車用晶片記憶體測試專用演算法

新聞 提要
芯測科技（iSTART）提供車用晶片記憶體測試專用演算法，透過可配置性設定，協助使用者經過簡單的設定，即可快速的產生記憶體測試與修復電路。根據研究指出車用電子相關晶片大多使用Multi-Port（Two-Port和Dual-Port）的靜態隨機存取記憶體（SRAM）並且與車用電子相關程式多半以Burst Read和Write居多。因此芯測科技提出許多測試上述情況的車用電子專用演算法在記憶體測試電路開發環境中。 智慧型汽車對於安全行車、車聯網、智慧化、電動化等先進科技的需求，加速車用電子日新月異的躍進，使得車上裝置電子化程度日益提高。汽車製造商不斷地追求更多功能、穩定且安全需求，以及通過ISO 26262功能性安全標準認證的SoC設計，來生產符合現今消費者需求的車款

發表新主題
主題：
文章內容：
  確認碼:  
  一般討論區
一般討論區
新聞報導論壇
活動消息論壇
專欄評析
零組件科技論壇
產業新品中心
  應用論壇區
文章論述論壇
軟體應用論壇
產品應用論壇
Microchip數位電源討論區─贏取大獎
  技術應用區
電子技術類：
電腦科技類：
網際科技類：
軟體資源類：
 
刊登廣告 ｜ 新聞信箱 ｜ 讀者信箱 ｜ 著作權聲明 ｜ 隱私權聲明 ｜ 本站介紹
︱ Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29號11樓 / 電話 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw