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討論新聞主題﹕Tektronix推出S530列參數測試系統 搭配KTE 7軟體支援WBG製造

新聞 提要
測試與量測解決方案供應商Tektronix公司今天發布了新款Keithley S530系列參數測試系統，以及KTE7軟體和其他增強功能。S530平台使半導體製造廠能為高速成長的新技術增添參數測試能力，同時有效降低CAPEX投資，並顯著地提升每小時晶圓產量。總體擁有成本隨之降低後，將有助於製造商在競爭激烈的新市場中因應龐大的價格壓力。 奠基於新興寬頻帶間隙(WBG)技術的新型半導體產品(如GaN和SiC)有望達成更快的切換速度、更寬的溫度範圍、更好的電源效率以及其他優勢。為了滿足這些產品的測試需求，以KTE 7為基礎的S530平台提供了實驗室等級的量測效能，以及最短的設定和測試時間

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