從來沒有像現在這樣，量測技術對於IC設計而言變得這麼重要，產品設計流程就是一連串的量測過程。所有電子產品都結合了複雜多樣的IC功能，面對現在多核心處理器的千變萬化，能夠「以一擋百」、以系統設計為架構、圖形化介面軟體為平台的量測技術，才能應付高整合難度的IC設計流程。量測廠商正把目前所面對的嚴峻挑戰，轉化成另一波潛藏無窮的商機。圖為台北NI Days 2007半導體測試高峰會上，講者解說交流電性參數測試Eye Diagram圖形化設計現場。（攝影/榮峰）