瞭解奈米尺度下的熱電傳輸行為對晶片設計有關鍵影響。中央研究院陳洋元的研究團隊，成功將一根奈米線懸吊在一掏空的矽基板上，並測出其導電率與熱傳導率。他們發現在奈米尺度下，熱電傳輸與一般不同，受到奈米線結構與缺陷所壓制，熱流比電流受到更大的壓制。此成果不但被《Applied Physics Letter》選為2008年二月的期刊封面，且下載次數達五百多次，在當月排名前4。至上個月，下載次數已破1000次，顯見該論文的重要性。（圖/中研院）