从来没有像现在这样，量测技术对于IC设计而言变得这么重要，产品设计流程就是一连串的量测过程。所有电子产品都结合了复杂多样的IC功能，面对现在多核心处理器的千变万化，能够「以一挡百」、以系统设计为架构、图形化接口软件为平台的量测技术，才能应付高整合难度的IC设计流程。量测厂商正把目前所面对的严峻挑战，转化成另一波潜藏无穷的商机。图为台北NI Days 2007半导体测试高峰会上，讲者解说交流电性参数测试Eye Diagram图形化设计现场。（摄影/荣峰）