封裝測試領袖論壇

2007年09月10日 星期一 【科技日報報導】
活動名稱: 封裝測試領袖論壇
開始時間: 九月十三日(四) 08:30 結束時間: 九月十三日(四) 17:20
主辦單位: SEMI
活動地點: 台北國際會議中心4樓貴賓廳-台北市信義路五段1號
聯絡人: Nico Tsou 聯絡電話: (03)573-3399 分機 229
報名網頁:
相關網址: http://www.semicontaiwan.org/SCTAIWAN-CT/ProgramsandEvents/STS/CTR_011479

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隨著消費性產品越來越輕薄短小且多功能,晶片製造業者必須全力發展低成本、體積輕巧且能支援多功能的整合晶片封裝技術,同時加速產品上市時程,以滿足市場需求。這使得SiP成為近期備受業界關注的封裝技術。SEMICON Taiwan 2007的測試封裝領袖論壇(Packaging & Testing Executive Forum)特別邀請國外TechSearch資深分析師Dr. Timothy G. Lenihan ,與國內封測龍頭日月光集團總經理暨研發長唐和明先生為主講貴賓,以及國內外重要設備材料廠商,從終端應用市場強勁需求的趨勢、深具潛力的技術解決方案和供應鏈協同作業的觀點來探討SiP市場的發展趨勢、SiP技術導入的技術挑戰及如何透過測試、封裝設備和材料的配合,找出SiP市場最具成本效益的解決方案。


關鍵字: 封裝測試   SE   MMMD   LELPMI