嵌入式系統設計驗證與除錯技術研討會
2008年01月14日 星期一
【科技日報報導】
活動名稱：
嵌入式系統設計驗證與除錯技術研討會
開始時間：
二月二十日(三) 09:30
結束時間：
二月二十日(三) 16:30
主辦單位：
太克科技
活動地點：
新竹市科學園區工業東二路1號(科技生活館205室)
聯絡人：
黃小姐
聯絡電話：
(02)2757-1521
報名網頁：
相關網址：
http://www2.tek.com/twweb/Event/desc.htm#SW7
�s�i
課程內容包含測試與量測的基本概念、淺談雜訊來源與信號完整性議題(設定、保持時間違規的量測…等) 、低速串列匯流排(CAN、I2C、SPI)簡介與嵌入式系統設計驗證與除錯測試實務。
關鍵字:
示波器
太克科技
測試系統與研發工具