NI PXI 儀器應用論壇-台北場

2009年05月21日 星期四 【科技日報報導】
活動名稱: NI PXI 儀器應用論壇-台北場
開始時間: 五月二十一日(四) 08:45 結束時間:
主辦單位: NI
活動地點: 台北國際會議中心101 C室-台北市信義路五段1號
聯絡人: 倪小姐 聯絡電話: 02-2377-2222轉 5188或 5190
報名網頁: ni.com/taiwan/seminar
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過去30年以來,NI的工具讓全世界數千家公司降低測試成本,並提升產品品質。相同的優點更實現於多種應用與測試之中,例如:Xbox 360遊樂器搖桿、LEXMARK印表機噴頭、Lockheed Martin戰鬥機及BMW汽車引擎的電子等。經由系統模組化、軟體定義的方式,即為控制測試成本的基礎。透過軟體定義的測試系統,使用者可針對不斷變化的技術隨時更改軟體,以因應新量測作業或遭淘汰儀器控制的需求。

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今年PXI儀器應用論壇,將針對各區不同的應用,分別針對以下主題來做探討:(1)如何利用多核心技術降低測試時間與成本;(2)PXI技術用於半導體和多媒體IC測試;(3)新一代PXI和PXI Express RF量測模組探討;(4)高效能FPGA元件整合至測試與控制應用。

只要是半導體和混合式訊號IC測試相關工程師、無線通訊研發人員、測試系統開發人員,或是自動化控制相關領域工程師,皆歡迎參加此次的活動。

美商國家儀器“ PXI儀器應用論壇”將與您一同探討如何繼續降低儀器成本,並在低迷的景氣環境,為產品創造更高附加價值!


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