2008年12月01日 星期一	【科技日報林佳穎報導】

Agilent安捷倫科技發表完善的SuperSpeed USB 3.0測試解決方案，可確保USB 3.0裝置符合最新出爐的規格標準。安捷倫科技在加州聖荷西市舉行的第一屆USB 3.0 Developers Conference（開發者大會）中，展示了新的USB 3.0發送器和USB 3.0接收器的Compliance Test（相容性驗證測試）解決方案，當中包含USB 3.0信號品質測試夾具。此一完整的解決方案可協助工程師快速又準確地測試USB 3.0的設計。

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安捷倫科技的解決方案將採行USB-IF於11月14日發表的USB 3.0最終規格。USB 3.0又稱為“SuperSpeed USB”，可提供比USB 2.0快十倍的資料傳輸率，且耗電量更低。SuperSpeed USB對傳輸速率超過25 Gbps的資料儲存裝置來說極為必要，業界的專家預估，到2009年底，製造商就會採用SuperSpeed USB，且2010年就會有眾多的消費產品支援USB 3.0。然而，在真正的晶片設計出來，可以實際進行測試之前，沒有任何USB 3.0的解決方案可以開始進行正式的認證。