2009年10月23日 星期五	【科技日報劉筱萍報導】

�s�i

最新的R&S ZVAB-K30選項可用於R&S ZVB、R&S ZVA及R&S ZVT向量網路分析且可對線性及頻率轉換的雙埠元件作雜訊指數量測。

在射頻及微波領域裡，雜訊指數量測是一項基本的應用。搭配最新的R&S ZVAB-K30雜訊指數量測選項，在R&S ZVB,R&S ZVA及R&S ZVT系列的向量網路分析儀都可以快速、準確及簡單地操作雜訊指數量測。R&S ZVAB-K30不需要使用雜訊源（noise source）及阻抗調整器（impedance tuner）。其所使用的方法是並行地利用2種不同的偵測器，可以快速及準確地量測，這種技術可以並行量測雜訊指數及其他的參數如散射矩陣。