2010年08月30日 星期一	【科技日報林佳穎報導】

宜特科技宣布，目前已引進高溫/高電場誘發閘極漏電實驗，是台灣首家引進此服務項目之獨立實驗室。此項目為國際汽車電子協會針對IC可靠度必測項目。

在實務中，無鉛製程溫度即比錫鉛製程溫度高30℃~40℃，此為高溫環境。而為了滿足無鉛高溫組裝需要，SMT機台廠商亦以增加機台熱區以及加大電熱能來因應，使得電場環境較以往嚴苛，因此高溫加上高電場而誘發了積體電路閘極漏電現象逐漸增加。

近幾年隨著IC製程演進，複雜度不斷上升，加上大多數IC設計公司為了擴大應用領域及降低成本不斷進行Die Shrink，此舉亦使得閘極漏電現象發生機率增加。部分研究顯示閘極漏電現象發生在高壓元件上較多；車用電子在高壓/高溫環境下閘極漏電現象之比例更高，因此國際汽車電子協會將此實驗納入IC可靠度必測項目之ㄧ。宜特科技除已具備多年IC可靠度經驗外，亦於今年自行開發完成電場/高溫誘發閘極漏電實驗能力建置，同時也已提供國內/外客戶試驗需求。