2015年10月19日 星期一	【科技日報編輯部報導】

Tektronix（太克科技）新推出一套分析工具，適用於新興的PAM4調變量測需求，並提供光學和電子介面的完整支援。全新的工具可在DPO70000SX 70 GHz即時示波器和DSA8300等效時間示波器上運作，確保不論特定的應用需要哪種儀器配置，皆可提供正確的結果與最高的準確度。

全新的量測工具可在即時和等效時間示波器上運作，並提供最低的雜訊擷取成果

PAM4是由IEEE P802.3bs工作群組在最新的400 Gigabit乙太網路標準中所採用的技術，適用於400G (通常為8 × 50G) 的電學和光學介面。相較於使用二位準訊號發送功能的傳統NRZ，在PAM4中所使用的四位準方案顯著地增加了訊號複雜度，並產生相關測試設備的新需求，以進行效能和雜訊靈敏度的測試。

若要推動業界廣泛採用此一全新的調變方法，則關鍵即在於是否能利用一套可同時支援光學和電子領域的通用工具，可靠地分析從13GBaud至56GBaud的PAM4訊號特性。Tektronix DPO70000SX和DSA8300示波器提供了低雜訊效能，可為工程師和研究人員提供準確的訊號擷取測試系統，能直接支援多位準的直接調變分析工作。

PAM4中的多位準訊號發送功能的分析工作需要採用具備低雜訊和良好的訊號雜訊比的示波器，以準確地擷取和分析多位元狀態。Tektronix DPO70000SX示波器使用非同步時間交錯（ATI）技術，提供了低雜訊擷取功能，相較於傳統的頻率交錯高效能示波器，其雜訊更低30%。

光學PAM4量測分析同樣也能從低雜訊擷取中獲益。利用DSA8300系列取樣示波器所採用的光學擷取技術，Tektronix現在可提供低雜訊和高靈敏度，甚至具備適當的完整時脈回復功能。Tektronix 80C15/CRTP光學模組中提供了全新的雜訊效能位準，再搭配其TDEC和SR4一致性量測功能的完整補充，將適用於進行光學PAM4分析。

Tektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示：「隨著PAM4技術在當前和未來的IEEE標準中迅速崛起，Tektronix正致力於滿足客戶對有效量測分析工具的需求，我們在兩項世界級的擷取系統上，針對電子和光學分析推出PAM4解決方案，為100G或400G設計工程師提供他們在PAM4開發上所需要的驗證和設計工具，同時還提供低雜訊和高頻寬。」

PAM4分析工具中所提供的功能包括：分析完整波形或相關波形的能力、多位準閾值的通過/失敗分析參考位準設定、每個LSB的數值上升/下降時間、MSB位準，以及利用Tektronix提供的PAM特定PLL模型的內建時脈回復。（編輯部陳復霞整理）