2018年01月17日 星期三	【科技日報報導】

Anritsu安立知宣佈升級其BERTWave MP2110A取樣示波器(Sampling Oscilloscope)，新增時脈還原(Clock Recovery)、4階脈衝振幅調變(PAM4)分析以及抖動分析(Jitter Analysis)選項，用於製造及檢測光模組與元件。

BERTWave MP2110A 新增時脈還原、PAM4 分析與抖動分析功能

隨著越來越多的供應商為用戶提供獨特的新服務，資料流量正呈指數級成長。因此，支援這些服務的光模組正朝著更高速的200Gbit/s與400Gbit/s發展，而傳輸格式也從先前的不歸零(NRZ)編碼技術進展到PAM4 。

另一方面，為了評估實際使用的模組性能，必須提供觸發訊號才能評估傳輸設備的光學介面以及區分抖動元件。因此，為了滿足這些多樣化的量測需求以及製造PAM4光模組，Anritsu安立知為MP2110A推出了高效率的選項功能，用以協助縮短檢測時間、提高產線良率，同時降低測量設備成本。

安利知MP2110A針對光模組 (CFP2/4/8、QSFP28、SFP28、OSFP、QSFP-DD等)、主動式光纖纜線 (AOC) 與光元件的實體層 (PHY) 性能評估，可應用於光模組及光元件的製造與檢測。

多合一的MP2110A除了現有的誤碼率(BER)測量及眼圖分析(EYE Pattern Analysis)功能外，現在又新增了支援時脈還原、抖動分析與 PAM4 分析三種新功能，使用者可隨時在 MP2110A 尚升級這些新功能選項。

Option-095 PAM4 分析軟體支援評估 PAM4 光訊號的測試需求，如TDECQ (Transmitter and Dispersion Eye Closure Quaternary)。

無需複雜的設定，即可輕鬆擷取測量結果，低雜訊 (3.4μW典型值) 且高靈敏度的示波器支援高可再現的測量，即使是對於眼圖裕度很小的PAM4訊號亦可提供穩定的測量，除此之外，高速取樣縮短了收集TDECQ分析資料所需的時間；縮短測量時間有助於提升PAM4訊號評估效率

Option-054 時脈還原 (Electrical/Optical)可從輸入資料訊號中還原取樣示波器所需的觸發訊號，例如傳輸設備無時脈源時，其可用於監測波形。內建設計支援簡單且低成本的測量系統配置，且無需複雜的配線，並且支援 NRZ 和 PAM4 的時脈還原，有助於降低設備成本，另外，減少MP2110A內部分頻器造成的損耗並降低對於靈敏度的影響，有助於高靈敏度的PAM4訊號監測

Option-096抖動分析軟體支援針對不同抖動元件的單獨分析，如總體抖動(TJ) 、確定性抖動(DJ)及隨機抖動(RJ)等。其特性包括支援J2、J9等要求的快速簡易測量、製造檢測(EY模式)，也支援詳細的DJ分析(先進抖動模式)，而同步進行抖動分析與 EYE 遮罩測試也在支援範圍內，有助縮短測試時間。