2019年01月16日 星期三	【科技日報報導】

愛德萬測試公司總裁暨執行長吉田芳明，已獲列為2018晶片製造業ALL STAR企業名人，躋身VLSIresearch晶片歷史中心名人堂，與半導體產業最知名、最有貢獻的名人共同並列。每年，VLSIresearch都會為這些高階經理人與領導人，對其在帶領公司與產業推動這一路上的辛勞貢獻，致上最高敬意。

引用吉田先生對持續發展中的半導體產業成長與成功的願景，VLSIresearch的執行長Dan Hutcheson特別強調，吉田先生對 “Grand Design”、以及對愛德萬測試未來的中期計劃策略與執行方向是非常清楚的。

這些在2018年落實的策略，一方面除了強化愛德萬測試的核心業務，更同時追求卓越經營，並利用持續增強顧客價值的整合化解決方案，來向外拓展。此外，在新業務的開拓上，愛德萬測試將持續擴大其業務領域，將相關市場，如半導體設計與評估、以及產品系統級測試流程等等一併納入。

Hutcheson執行長同時也注意到，愛德萬測試2018年的成就，就足以證明其成功，並說明在吉田總裁暨執行長的帶領下，愛德萬顯然已經超越了測試與量測的領域。

在得知自己被列入2018 ALL STAR名人堂後，吉田總裁暨執行長表示 :「獲得此項殊榮，同時能與我長期以來景仰的半導體產業領袖和先知們並列，實在令我愧不敢當。非常感謝VLSIresearch的團隊頒發給我這樣的榮譽，同時我也要恭喜所有2018 ALL STAR的得獎人與他們的成就。」