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R&S進行5G園區專網安裝和測試 優化工業4.0部署案例 (2020.12.07)
5G的容量、反應性和靈活性，使各種全新的即時應用案例成為可能，包括智慧工廠專用無線網路，但在覆蓋範圍、延遲和可靠性方面，5G的要求也更加嚴苛，部署網路時將面臨強大的挑戰 |
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彈性可擴充測試方法 將成為左右OTA測試成敗關鍵 (2020.01.06)
新一代5G主動式天線陣列裝置現在備有主動式波束賦形電子，可提供多種非線性RF元件，例如數位控制PA、LNA、相位移轉器與混合器。新的設計會以單一封裝整合多通道設定 |
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SEMICON Japan 2019登場 愛德萬測試聚焦5G及IoT測試 (2019.12.04)
半導體測試設備供應商愛德萬測試(Advantest Corporation)將參加於12月11至13日假東京國際會展中心(Tokyo Big Sight)舉辦的「2019年日本國際半導體展」(SEMICON Japan 2019)，展示能使5G通訊成真並加速其他頂尖應用發展之先進IC的測試挑戰，包括推動人工智慧 /機器學習、甚至智慧工廠和智慧城市發展的先進IC |
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NI、Tokyo Electron、FormFactor與Reid-Ashman展示5G mmWave半導體晶圓探針測試解決方案 (2019.05.22)
NI今日發表及展示與Tokyo Electron、FormFactor與Reid-Ashman共同開發的5G mmWave晶圓探針測試解決方案。
現場展示的解決方案可因應5G mmWave晶圓探針測試的各項技術挑戰，協助半導體製造商降低5G mmWave IC的風險、成本，並加快上市時間 |
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日本半導體設備展愛德萬測試將展示適用於5G連結之大量半導體測試解決方案 (2018.12.05)
半導體測試設備領導廠商愛德萬測試，將於12月12至14日於東京國際展覽中心舉辦的2018年日本半導體設備展，展出十多件最先進測試解決方案，可廣泛地應用於行動電子設備、醫療設施、汽車、零售業及大數據等第5代無線連結設備 |
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5G商轉在即 NI以靈活系統架構因應企業多元測試需求 (2018.08.10)
隨著萬物互聯時代來臨，裝置及感測器數量不斷增加，為精準傳輸複雜訊息，自動化測試成物聯裝置至關重要的研發環節。以軟體為中心的平台供應商國家儀器(NI)，協助業界加速自動化測試與自動化量測系統的開發進程和效能提升 |
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意法半導體推出新一代智慧物件安全晶片 (2018.05.30)
意法半導體（STMicroelectronics）單晶片整合最新的數位安全技術，以保護包括公共基礎建設在內的智慧物件和網路，防禦網路威脅。
針對連網物件提供最先進的安全功能，STSAFE-J100為這些連網設備提供一個可以驗證且不可改變的身份，處理物聯網通訊加密，並提供資料安全存儲功能 |
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效能、擴充性、體積和維修 新世代UPS四大設計趨勢 (2018.05.22)
UPS是電力系統中重要設備，隨著智慧用電技術的進步，其設計也開始進化，就目前發展來看，市場上UPS目前的設計走向有四，包括效能、擴充性、體積和維修，在效能部分，現在市場對UPS的效能計算，已不像過去只看中在實驗室中的數值，而是要看實際使用狀況下的表現，尤其是在特定低載條件例如建置初期或夜間時的UPS效能 |
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NI將半導體測試系統的PXI SMU通道密度提升6倍 (2018.02.06)
國家儀器(NI)發表PXIe-4163高密度電源量測單元(SMU)，其DC通道密度為上一代NI PXI SMU的6倍，適合用來測試RF、MEMS與混合訊號，以及其他類比半導體元件。
NI全球銷售與行銷執行副總EricStarkloff表示：「5G、物聯網與自動化汽車等高顛覆性技術的出現，迫使半導體產業必須持續推動技術發展，並採用更具效率的方式來進行半導體測試 |
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Igus將於2018漢諾威工業博覽會舉行vector頒獎典禮 (2018.01.04)
易格斯(igus)vector獎至今已邁入第六屆，在2017年的Motek展覽會宣布了下一屆vector獎的相關消息，而頒獎典禮將於2018年漢諾威工業博覽會上舉行。
您有沒有想過，能量和資料 |
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意法半導體與Wurth Elektronik攜手提升線上電源應用設計環境 (2017.04.19)
意法半導體（STMicroelectronics，簡稱ST）進一步擴大其 eDesignSuite線上設計環境，增加變壓器大廠Wurth Elektronik的變壓器產品，提升客戶新專案的開發速度和成本效益。
目前有越來越多的電子產品設計是在元件廠商之線上設計環境內完成的 |
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NI引進半導體 ATE數位功能至 PXI (2016.11.15)
NI國家儀器推出 NI PXIe-6570 數位波形儀器與 NI Digital Pattern Editor。此產品讓RFIC、電源管理 IC、MEMS 裝置與混合訊號 IC 的製造商不再受限於傳統半導體自動化測試設備 (ATE) 的封閉架構 |
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NI：邁向更開放的智慧型半導體測試 (2016.09.09)
身為平台式系統供應商，NI（國家儀器）不斷致力於協助工程師與科學家，解決當今全球最艱鉅的工程挑戰。而看準複雜且日新月異的智慧裝置市場，正驅動著半導體設備商對多重測試的強勁需求 |
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NI將於Semicon Taiwan展出智能型開放式ATE自動化測試設備 (2016.09.07)
在充滿智慧裝置的物聯網時代，多元且複雜化的半導體零組件應運而生，讓半導體廠商在進行各項待測物量測時面臨極大的挑戰。NI國家儀器於9月7日到9月9日2016 SEMICON Taiwan期間 |
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淺談NI模組化量測策略 (2016.08.22)
模組化量測之所以能成為量測市場的顯學之一，最大的功臣，應該屬於NI，而隨著該領域的競爭日益激烈，NI理當也要祭出對應的競爭策略才是。 |
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NI推出強化版半導體測試管理軟體 (2016.04.01)
NI 國家儀器（National Instruments；NI）作為致力於為工程師與科學家提供解決方案以應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商，推出TestStand半導體模組（TestStand Semiconductor Module），為測試系統工程師提供所需的軟體工具來快速開發、佈署並維護最佳化的半導體測試系統 |
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NI 推出強化版半導體測試管理軟體 (2016.03.31)
國家儀器（National Instruments；NI）作為致力於為工程師與科學家提供解決方案以應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商，推出 TestStand 半導體模組 （TestStand Semiconductor Module），為測試系統工程師提供所需的軟體工具來快速開發、佈署並維護最佳化的半導體測試系統 |
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量測市場策略觀察 各有各的好 (2014.10.30)
(刊頭)
（Source：blog.presentationload.com）
引言
市場的快速變動，迫使量測業者必須作出反應，
以維持在市場的競爭實力，基於每家公司的背景不同，
所採取的策略也有所差異，但可以確定的是，他們各自擁有一片天空 |
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量測市場策略 各有各的好 (2014.09.10)
今年對於NI（美國國家儀器）來說，無非是變化相當大的一年，從基礎型的箱型量測儀器，或是先前所推出的STS（半導體測試系統），都可說是NI在產品策略上極具里程碑的重要進展 |
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NI：PXI打造最低成本半導體測試系統 (2014.09.04)
在摩爾定律的發展極限之下，產生更多裝置連結與資料分析的需求。也由於物聯網與智慧手機的發展，使得類比與RF訊號更顯得重要。未來的訊號，將不再以純類比訊號為主，而是更為複雜的類比與RF混合訊號，這使得傳統ATE（半導體自動化測試設備）系統出現了瓶頸 |
