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NI：迈向更开放的智慧型半导体测试 (2016.09.09)
身为平台式系统供应商，NI（国家仪器）不断致力于协助工程师与科学家，解决当今全球最艰巨的工程挑战。而看准复杂且日新月异的智慧装置市场，正驱动着半导体设备商对多重测试的强劲需求 |
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NI 发表高精度PXI电源量测单元 (2016.08.05)
NI 国家仪器于近日推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供 10 fA 的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、测试输出率，工程师可使用NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号，并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC 的特性测试等多种应用 |
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NI发表高精度PXI电源量测单元 (2016.07.25)
NI 国家仪器于近日推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供10 fA的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、测试输出率，工程师可使用NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号，并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC 的特性测试等多种应用 |
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NI举办2016自动化测试与量测技术研讨会 (2016.07.25)
NI国家仪器近日于台南、新竹、台北分别举办2016自动化测试与量测技术研讨会，透过系列讲座与实机展示，剖析自动化测试与量测的最新趋势、分享PXI平台如何协助客户进入物联网时代及提供有效管理巨量类比资料(Big Analog Dara)的解决方案 |
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美商吉时利仪器推出晶圆参数测试系统 (2007.07.30)
量测解决方案厂商—美商吉时利仪器公司，宣布晶圆参数测试系统--S600系列的多项功能，包括将每个测试系统的控制计算机移转为Linux操作系统， 提供更稳定的操作系统与使用寿命更长的计算机，降低客户新设工作站与升级软硬件资源的需求 |
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美商吉时利仪器优越产品获颁TI卓越供货商奖 (2007.07.24)
美商吉时利仪器公司宣布获颁德州仪器（TI）2006年卓越供货商奖（Texas Instruments 2006 Supplier Excellent Award）。这个年度奖项旨在奖励产品与服务达到德州仪器卓越高标准的供应厂商，得奖厂商获选理由包括在成本、环保责任、科技、反应能力、供货保证与质量等方面的表现足为楷模表率 |
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力晶选用Agilent测试系统执行晶圆参数测试 (2006.06.05)
安捷伦（Agilent）宣布，力晶半导体12M新厂决定采用Agilent 4070系列之高精密参数测试系统，以执行产品之晶圆参数测试Wafer Acceptance Test(WAT)。
安捷伦科技之Agilent 4070系列提供了卓越质量, 高稳定, 及高输出(throughput) 之完整参数测试解决方案，能完全符合业界对于产品之严格参数测试需求 |
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联电采用安捷伦完整参数解决方案 (2003.04.23)
安捷伦科技公司22日表示，联电已选中安捷伦科技4070|300来建置他们的300mm晶圆参数测试的自动化作业。 4070|300及半导体制程评估核心软体-工厂自动化，为联电提供了可靠度及300 mm晶圆制造所需的效能能力 |
