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西门子与台积电合作协助客户实现最隹化设计 (2023.10.12)
西门子数位化工业软体宣布与台积电深化合作，展开一系列新技术认证与协作，多项西门子 EDA 产品成功获得台积电的最新制程技术认证。
台积电设计基础架构管理部门负责人 Dan Kochpatcharin 表示：「台积电与包括西门子在?的设计生态系统夥伴携手合作 |
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西门子提供EDA多项解决方案 通过台积电最新制程认证 (2023.05.10)
身为台积电的长期合作夥伴，西门子数位化工业软体日前在台积电2023 年北美技术研讨会上公布一系列最新认证，展现双方协力合作的关键成果，将进一步实现西门子EDA技术针对台积电最新制程的全面支援 |
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西门子加入IFS计划EDA联盟 提供最隹IC设计方案 (2022.02.22)
西门子数位化工业软体近日宣布，加入成为英特尔晶圆代工服务（IFS）加速计划中的EDA联盟特许成员。英特尔的IFS计划旨在建立完备的生态系统，基於IFS先进的制程技术，为新一代系统单晶片（SoC）提供设计与制造支援 |
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西门子与台积电深化合作 3D IC认证设计达成关键里程 (2021.11.04)
西门子数位化工业软体，日前在台积电 2021开放创新平台 (OIP) 生态系统论坛中宣布，与台积电合作带来一系列的新产品认证，双方在云端支援 IC 设计，以及台积电的全系列 3D 矽晶堆叠与先进封装技术（3Dfabric）方面，已经达成关键的里程碑 |
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使用可靠的隔离式ADC有效控制三相感应马达 (2021.04.07)
本文探讨在达到精密AC马达控制时所衍生的相关问题，并说明为何隔离式类比回授是这种应用的良好选择。 |
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提升取样率 为示波器讯号品质把关 (2020.02.11)
取样是将输入讯号转换成离散电气值，以进行处理或显示的过程。示波器的取样率越高，波形解析度也越高，并显示出更清楚的细节。因此取样率的品质，将可以很明显代表出一部示波器的性能优劣 |
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实践投资亚太承诺 NI结盟蔚华科技打造半导体量测新纪元 (2019.09.11)
国家仪器（NI）联手蔚华科技举办双方结盟记者会，由NI国家仪器台湾区总经理林沛彦与蔚华科技总经理高瀚宇共同出席，说明双方今年5月的重大结盟。未来NI将持续借助蔚华完善的经销服务体系和应用工程技术，为大中华与台湾客户提供客制化解决方案与即时的自动化量测服务，实践NI投资大中华区市场的承诺 |
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RF特性提升ATE测试难度 PXI架构提供更具弹性选择 (2019.09.10)
传统上，大部分的RF与混合式讯号IC的测试，都是在生产环境中透过自动化测试设备（ATE）来进行，或是在特性测试实验室中透过机架堆叠式箱型仪器而完成的。典型的机架堆叠式箱型仪器可提供高品质的实验室等级量测结果，但是缺点是容量有限，不仅无法处理大量零件，测试时间也比ATE来得慢 |
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示波器探测执行效能最隹化的8大秘诀 (2019.04.12)
探棒通常是示波器测量链中的第一环。性能不足将导致讯号失真。选择恰当的探棒是执行可靠测量的第一步。而如何使用探棒，也会影响获得有用的测量结果。 |
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为讯号完整性把关 示波器迎接棘手测试挑战 (2019.02.27)
对示波器来说，准确重建波形的能力是关键，示波器可捕获讯号影像，然後可以观察和解释讯号影像。而不同的系统和功能结合，也会影响其提供最高讯号完整性的能力。 |
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为讯号完整性把关 示波器迎接棘手测试挑战 (2019.01.14)
对示波器来说，准确重建波形的能力是关键，这种能力称为讯号完整性。示波器可捕获讯号影像，然後可以观察和解释讯号影像。 |
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高速数位讯号测试的关键一步 (2018.07.10)
在数位系统研发工程中，讯号完整性测试是至关重要的一步。系统中任何故障隔离和消除都是工程师的责任，具有高频宽效能和高效率的仪器能够准确解决高速讯号的异常 |
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D3 Semiconductor与贸泽电子签署全球分销协定 (2017.06.20)
D3 Semiconductor与贸泽电子签署全球分销协定
D3 Semiconductor宣布贸泽电子 (Mouser Electronics) 现已成为其全球分销合作伙伴。根据协定，贸泽电子目前储备D3 Semiconductor 的完整650 伏额定电压超结金属氧化物半导体场效应电晶体(MOSFET) +FET产品线 |
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选择对的示波器 让测试事半功倍吧 (2017.05.22)
正确考虑各种因素 |
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NI VirtualBench多合一仪器提升示波器与函式产生器性能 (2017.02.17)
NI国家仪器于近日发表 VirtualBench 更高效能的全新机箱：VB-8054 仪器。 VirtualBench 多合一仪器可在单一装置内整合五种仪器，且各个仪器的效能皆不受影响，同时可以降低测试与量测系统的成本与体积 |
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NI将于Semicon Taiwan展出智能型开放式ATE自动化测试设备 (2016.09.07)
在充满智慧装置的物联网时代，多元且复杂化的半导体零组件应运而生，让半导体厂商在进行各项待测物量测时面临极大的挑战。 NI国家仪器于9月7日到9月9日2016 SEMICON Taiwan期间 |
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功能攀升 示波器以更强大姿态面世 (2016.08.29)
示波器不再只是时域测量工具，它已能够进行频域测量，因此能满足LTE和WLAN等系统的信号验证和调试需求。透过软体定义仪器功能，更可进行客制化量测。 |
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NI推出强化版半导体测试管理软体 (2016.04.01)
NI 国家仪器（National Instruments；NI）作为致力于为工程师与科学家提供解决方案以应对全球最严峻的工程挑战的供应商，推出TestStand半导体模组（TestStand Semiconductor Module），为测试系统工程师提供所需的软体工具来快速开发、布署并维护最佳化的半导体测试系统 |
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NI 推出强化版半导体测试管理软体 (2016.03.31)
国家仪器（National Instruments；NI）作为致力于为工程师与科学家提供解决方案以应对全球最严峻的工程挑战的供应商，推出TestStand 半导体模组（TestStand Semiconductor Module），为测试系统工程师提供所需的软体工具来快速开发、布署并维护最佳化的半导体测试系统 |
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NI发表VirtualBench多合一仪器进阶版 (2016.02.17)
协助工程师与科学家解决全球最艰巨工程挑战的平台式系统供应商 NI 国家仪器，推出新款 VirtualBench 高效能机型。软体架构的 VirtualBench 多合一仪器，结合了混合式讯号示波器、函式产生器、多功能数位电表、可程式化 DC 电源供应器和数位 I/O |
