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Tektronix推出SAS兼容性测试适用的单键解决方案 (2010.02.03)
Tektronix今（3）日宣布自动兼容性和测试自动化解决方案，现在跨越SATA和SAS（串行连接SCSI）标准，包括由UNH-IOL和SCSI商业协会（STA）所定义广泛的SAS兼容性测试。使用最新的TekExpress软件，储存系统设计人员只需按一个键即能完成这些测试，确保准确和一致的结果，可节省设定时间，不会浪费时间在重复的手动测试 |
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LitePoint针对3G/4G高量能制造推出新测试系统 (2010.02.03)
LitePoint的IQxstream专为2G，3G及包括LTE等最先进4G手机标准进行物理层测试而设计，其将在产品中加入三个层级的平行测试功能。随着具备新增及差异化无线电和标准的不断推陈出新，LitePoint藉由此设计来因应日趋严苛的挑战，避免测试时间与成本的攀升 |
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NI Multisim 11 简化电路仿真教学与设计程序 (2010.02.03)
美商国家仪器（NI）日前发表最新版本的Multisim 11电路仿真软件，可同时用于实作教学与专业电路设计。Multisim软件具备图形化的程序设计方式，可降低传统电路仿真的复杂性，让教师、学生，与工程师均可了解高阶的电路分析技术 |
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高效能混合讯号设计的除错与验证 (2010.02.02)
高效能数字系统中经常使用的许多技术虽然存在着标准，主要的测试要求则可确保所有组件的同步化及整体无缝的整合效能。终端装置可能包含多个子系统，这些系统有的需要与彼此和外界通讯 |
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Tektronix授权台湾大学e-Learning量测数字教材 (2010.02.01)
Tektronix授权国立台湾大学电机工程学系e-Learning量测数字教材，签约仪式日前于台湾大学举行。Tektronix亚太区营销部协理张天生、台湾区业务经理吴俊贤，以及台湾大学电机信息学院李琳山院长、电机系胡振国主任等人，共同参与授权签约仪式 |
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NI发表进阶6.6 GHz PXI Express RF模块化仪器 (2010.02.01)
美商国家仪器（NI）针对自动化无线装置测试，发表新的二款PXI Express RF模块化仪器：NI PXIe-5663E - 6.6 GHz向量讯号分析器（VSA）与NI PXIe-5673E - 6.6 GHz向量讯号产生器（VSG）。
这是针对使用最新无线标准（如 WLAN、WiMAX，与GSM/EDGE/WCDMA）的多款装置，将有效大幅缩短自动化测试时间 |
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Tektronix Communications推出核心网络测试平台 (2010.01.28)
Tektronix Communications本周二（1/27）宣布，推出适用于Spectra2通讯协议测试产品线的Spectra2u核心网络测试平台。Spectra2u采用Intel双四核心处理架构，让网络设备制造商和电信业者都能进行NGN、VoIP和复合网络测试，以提高其功能性、符合性、效能和媒体质量，所有测试只需在单一高容量的多用户测试平台即可完成 |
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让广大用户群都能共享精密射频频谱分析功能的威力 (2010.01.27)
一台功能强大的频谱分析仪往往具备强大的射频硬件效能和运算能力，让用户能够用一台仪器执行多种仪器的功能。不过，受限于预算，许多研发、制造及教育机构始终无缘使用这些强大而精密的分析功能 |
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Zytronic为研华平板式计算机增添触控功能 (2010.01.26)
Zytronic今（26）日宣布，研华科技（Advantech）选用该公司的投影电容式技术（PCT）触控传感器，在其最新强化的17吋平板式计算机中提供ZYPOS触控传感器选择。
17.1吋ZYPOS触控屏幕 |
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孕龙科技推出二款新版总线分析模块 (2010.01.25)
孕龙科技（zeroplus）于今日（1/25）宣布，推出两组总线分析模块PHILIPS_RC5、PHILIPS_RC6。PHILIPS_RC5为飞利浦公司制定的一种红外线遥控信号协议，虽然飞利浦早已制定新款的RC6标准，但目前大多数飞利浦电子产品仍采用RC5格式 |
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并Touchdown 惠瑞捷探针卡技术如虎添翼 (2010.01.25)
半导体测试设备与解决方案大厂惠瑞捷（Verigy）接橥今年四大发展目标，除了计划提升既有测试机台的影响力外，惠瑞捷也藉由并购Touchdown取得半导体探针卡（probe card）技术，同时惠瑞捷并计划在18个月内把RF测试的市占率提升到35％ |
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安捷伦新一代电源与材料测试研讨会 (2010.01.22)
随着资通讯产品效能之不断提升，以及车用电子、半导体及新兴能源之广泛应用，电源整合及参数测试已成为所有电源设计及参数分析工程师们之关键课题，不论是电源管理IC、电源组件 (例如增益与相位)、低频电路S参数分析、还是IV/CV量测，都必须纳入时域及频域之双重考虑以使其效能得以优化 |
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安捷伦强化PXB基频产生器与信道仿真器功能 (2010.01.21)
安捷伦科技（Agilent）在昨日（1/20）宣布，为旗下的Agilent N5106A PXB基频产生器与信道仿真器提供一系列强化功能，使该仪器能够适用于整个研发周期 – 从设计、整合与验证到先期符合性测试 |
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Tektronix USB3.0测试方案 促使兼容装置更快上市 (2010.01.20)
Tektronix今（20）日宣布，该公司的SuperSpeed USB解决方案，支持NEC Electronics USB 3.0兼容主机控制器的讯号质量验证作业，这是获得USB设计论坛（USB Implementers Forum）认证的USB 3.0产品 |
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安捷伦HDMI 1.4 CTS研讨会 (2010.01.20)
安捷伦从HDMI标准确立以来，一直参与HDMI规格的制定，以协助厂商执行兼容性测试及解决该技术所带来的挑战。其中包含了各种物理层、数据链路层与协议层测试工具，足以因应HDMI标准所产生的各种挑战 |
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安捷伦新鈎表及手持式仪器新装上市强化安全识别 (2010.01.18)
2010年开春之际，安捷伦（Agilent）即于今日（1/18）召开记者会宣布，推出新型AgilentU1210系列掌上型电流鈎表系列，该仪器最高可量测1000 A的大电流，适用于直径达2英吋的接线 |
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NI与DENSO Robotics为工业机器人共构新应用 (2010.01.18)
美商国家仪器（NI），以及透过机器人技术进行自动化制造商DENSO Robotics宣布，将整合NI量测/机器视觉技术与DENSO机器手臂，以提供绝佳的新应用。此项合作将针对自动化测试、研究，与弹性的制造应用，提升相关产能与效能 |
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NI扩展RF与微波测试作业的组合 (2010.01.14)
NI近日发表新的二款RF讯号处理模块，不仅提升PXI架构RF与微波测试系统的弹性与精确度，更进而扩充自己的自动化测试产品系列。在如RF讯号路径衰变模式、场强计量，与接收器测试的应用中，工程师可使用新款NI PXI-5695 - 8 GHz可程序化RF衰减器，搭配向量讯号产生器 ，于低功率提升RF讯号的质量 |
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德州仪器模拟说明会 (2010.01.13)
德州仪器推出业界首款采用独家封装技术的功率MOSFET，能实现从头到尾的全面散热效能！TI亚洲区市场开发电源管理协理罗伟将介绍这一系列功率 MOSFET 产品及其傲人成果 |
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安捷伦数字量测体验营---亲身体验先进量测工具 (2010.01.13)
示波器是基础电子以及数字研发工程师最普遍的量测仪器。许多公司新进的研发工程师因为没有时间深入了解示波器的功能以及正确的使用方法，因而浪费了许多宝贵的时间在电路除错上，不仅拖延了产品出货的时间，也得罪了下游客户 |
