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CTIMES / 測試晶片
科技
典故
第一颗晶体管(Transistor)的由来

第二次世界大战末期,贝尔实验室开始一项研究计划,目标是研发出一种体积更小、功能更强大、更快速且可靠的装置来取代真空管。1947年12月23日,由贝尔实验室研发的晶体管取代了真空管,优点是体积更小、更可靠、且成本低廉,不仅孕育了今日遍及全球的电子半导体产业,同时也促成电讯计算机业、医学、太空探测等领域产生戏剧性的改变。
智原推出新款最小面积的USB 2.0 OTG PHY IP (2018.08.15)
ASIC设计服务暨IP研发销售厂商智原科技[Faraday Technology]推出最小面积的40奈米USB 2.0 OTG PHY IP。此IP已经透过测试晶片通过验证,适用於多功能事务机、数位相机、USB可携式装置、物联网、穿戴装置与微控制器(MCU)等低成本、低功耗的消费性应用
ARM首款基于台积公司10奈米FinFET多核心测试晶片问世 (2016.05.19)
ARM宣布首款采用台积公司 10奈米FinFET制程技术的多核心 64位元 ARM v8-A 处理器测试晶片问世。模拟基准测试结果显示,相较于目前多用于多款顶尖高阶手机运算晶片的16奈米FinFET+ 制程技术,此测试晶片展现更佳运算能力与功耗表现
意法半导体与米兰理工大学合作开发FASTER 3D绘图应用系统 (2015.01.13)
意法半导体(STMicroelectronics;ST)宣布对基于光线追踪(ray-tracing)技术的实验性3D绘图应用系统进行测试验证。该解决方案采用一颗与现场可编程逻辑门阵列(FPGA)相连、基于ARM处理器的测试芯片
虹晶提供特许65奈米低功率制程的测试芯片 (2008.03.29)
虹晶科技,ㄧ家台湾在SoC设计服务公司,于2007年底宣布完成基于特许半导体65奈米低功率制程的发展套件后,再度宣布推出基于此制程的测试芯片,来提供给使用ARM926EJ-S的系统设计

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