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CTIMES / 測試晶片
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独霸编码,笑傲江湖──ASCII与Unicode间的分分合合

为了整合电子位信息交换的共同标准,统一全球各国分歧殊异的文字符号,独霸全球字符编码标准,ASCII与Unicode的分分合合就此展开........
智原推出新款最小面积的USB 2.0 OTG PHY IP (2018.08.15)
ASIC设计服务暨IP研发销售厂商智原科技[Faraday Technology]推出最小面积的40奈米USB 2.0 OTG PHY IP。此IP已经透过测试晶片通过验证,适用於多功能事务机、数位相机、USB可携式装置、物联网、穿戴装置与微控制器(MCU)等低成本、低功耗的消费性应用
ARM首款基于台积公司10奈米FinFET多核心测试晶片问世 (2016.05.19)
ARM宣布首款采用台积公司 10奈米FinFET制程技术的多核心 64位元 ARM v8-A 处理器测试晶片问世。模拟基准测试结果显示,相较于目前多用于多款顶尖高阶手机运算晶片的16奈米FinFET+ 制程技术,此测试晶片展现更佳运算能力与功耗表现
意法半导体与米兰理工大学合作开发FASTER 3D绘图应用系统 (2015.01.13)
意法半导体(STMicroelectronics;ST)宣布对基于光线追踪(ray-tracing)技术的实验性3D绘图应用系统进行测试验证。该解决方案采用一颗与现场可编程逻辑门阵列(FPGA)相连、基于ARM处理器的测试芯片
虹晶提供特许65奈米低功率制程的测试芯片 (2008.03.29)
虹晶科技,ㄧ家台湾在SoC设计服务公司,于2007年底宣布完成基于特许半导体65奈米低功率制程的发展套件后,再度宣布推出基于此制程的测试芯片,来提供给使用ARM926EJ-S的系统设计

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