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CTIMES / 結構缺陷偵測
科技
典故		 攀上传输顶巅──介绍几个数字显示接口标准

当传输技术进入数字时代之后，用户及厂商对于数字显示的质量要求越来越注重，结合显示适配器硬件的数字显示接口标准，其发展进度因而更受到瞩目。
ADI微机电加速度计实现结构缺陷的早期侦测 (2016.11.22)
亚德诺半导体（ADI）宣布一款三轴微机电（MEMS）加速度计，以极低杂讯进行高解析度振动测量，实现经由无线感测器网路的早期结构缺陷侦测。新的ADXL354和ADXL355加速度计的低功耗，延长了电池寿命，并藉由减少更换电池的时间以延长产品的使用

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