账号：
密码：
CTIMES / 成像儀
科技
典故		 从演化到多元整合──浅介Bus规格标准的变迁

一个想要满足于不同市场需求的通用型Bus标准界面，能否在不断升级传输速度及加大带宽之外，达到速度、容量、质量等多元整合、提升效能为一体的愿望？
Imec发表高量子效率CCD-in-CMOS成像仪 加入近UV感测功能 (2018.11.06)
奈米电子和数位技术研究与创新机构imec，在Vision 2018展览会上，推出了一款基於电荷耦合器件（CCD）-in-CMOS技术的高速紫外线感应与时间延迟积分（TDI）成像仪。TDI成像仪在近紫外（UV）区域具有70%以上的量子效率，使其可应用於工业机器视觉，尤其是作为半导体制造过程中的检测工具

  十大热门新闻

AD
刊登廣告 ｜ 新聞信箱 ｜ 读者信箱 ｜ 著作權聲明 ｜ 隱私權聲明 ｜ 本站介紹
︱ Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29号11楼 / 电话 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw