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CTIMES / 太克科技
科技
典故
电子工业改革与创新者 - IEEE

IEEE的创立,是在于主导电子学的地位、促进电子学的创新,与提供会员实质上的协助。
新兴分析工具加速设计除错及验证 (2005.06.01)
处理数位讯号的工程人员最主要的考量就是讯号完整性,特别是以一种决定且可信任的方式,将讯号从数位电路的一部份散布至另一部份的需求提供讯号所包含的数位资讯
逻辑分析仪基本原理及应用 (2005.04.25)
使用以Win 2000为操作平台的新型逻辑分析仪系列,只要透过单一探棒状态配合每波道500ps 的分辨率及5Gs/s的示波器模块,透过软、硬件中Source Code, Assemble Code与Timing Cycle的链接,提供高速数字软、硬件的解决方案
Tektronix 与 National Instruments 联合举办技术研讨会(高雄) (2004.07.27)
参加 Tektronix 与 National Instruments 的联合研讨会,我们将告诉您以往所不知的 应用方式与强大功能 - TDS 示波器平台的 OpenChoice & LabView 之整合与应用 专业工程师透过Tektronix示波器的使用,已经能够轻松地验证产品并且更加得心应手
Tektronix 与 National Instruments 联合举办技术研讨会(新竹) (2004.07.27)
参加 Tektronix 与 National Instruments 的联合研讨会,我们将告诉您以往所不知的 应用方式与强大功能 - TDS 示波器平台的 OpenChoice & LabView 之整合与应用 专业工程师透过Tektronix示波器的使用,已经能够轻松地验证产品并且更加得心应手
Tektronix 与 National Instruments 联合举办技术研讨会(台北) (2004.07.27)
参加 Tektronix 与 National Instruments 的联合研讨会,我们将告诉您以往所不知的 应用方式与强大功能 - TDS 示波器平台的 OpenChoice & LabView 之整合与应用 专业工程师透过Tektronix示波器的使用,已经能够轻松地验证产品并且更加得心应手
高频探针附件之使用 (2003.05.05)
高频高频探针头连接线路如果不当容易产生不可预测的干扰信号,所以附件的正确使用是每一为工程师必备的常识,也许每个厂商的Probe形状不太相同,但是附件的正确使用原理是相同的,本文针对探针附件的使用方法加以介绍,让使用者得到正确的使用观念
高频示波器探棒带宽需要校正吗? (2003.04.05)
一般人对示波器所配备的探针并不是非常的注意其规格与其影响,也就是说他将示波器的探针随便匹配使用。示波器需要校正,那么探棒是否也需要校正?本文要探讨的就是如何确定一支高带宽探针(探棒)的带宽是正确足够的
太克科技期望加大BTS测试仪器领先幅度 (2002.12.12)
无线通讯系统已渐进入3G的高潮期,台湾也已经积极地往新一代的通讯标准迈进。全球量测仪器大厂太克科技(Tektronix)十一月中,其一年一度举办的全球大活动-「2002年亚太区巡回研讨会」刚刚落幕
高速数字设计与除错的整合式仪器解决方案 (2002.11.20)
Tektronix 亚太巡回研讨会是 Tektronix 历年来极受欢迎的一项传统,参与过此活动的来宾无不感叹于课程设计的教育性及实用性,且皆留下深刻的印象。值此第八届盛会,本公司以「革新技术解决方案、共创亚洲美好未来」为主旨,很荣幸邀请您再次莅临
解决讯号完整度问题的 TDR 注意事项 (2002.10.29)
Tektronix 亚太巡回研讨会是 Tektronix 历年来极受欢迎的一项传统,参与过此活动的来宾无不感叹于课程设计的教育性及实用性,且皆留下深刻的印象。值此第八届盛会,本公司以「革新技术解决方案、共创亚洲美好未来」为主旨,很荣幸邀请您再次莅临
测试 UMTS 无线电存取网络 (2002.10.29)
Tektronix 亚太巡回研讨会是 Tektronix 历年来极受欢迎的一项传统,参与过此活动的来宾无不感叹于课程设计的教育性及实用性,且皆留下深刻的印象。值此第八届盛会,本公司以「革新技术解决方案、共创亚洲美好未来」为主旨,很荣幸邀请您再次莅临
高速数字设计与除错的整合式仪器解决方案 (2002.10.29)
Tektronix 亚太巡回研讨会是 Tektronix 历年来极受欢迎的一项传统,参与过此活动的来宾无不感叹于课程设计的教育性及实用性,且皆留下深刻的印象。值此第八届盛会,本公司以「革新技术解决方案、共创亚洲美好未来」为主旨,很荣幸邀请您再次莅临
太克科技光组件、雷射二极管及WDM系统测试研讨会-新竹场 (2002.07.17)
太克科技光组件、雷射二极管及WDM系统测试研讨会-台北场 (2002.07.17)
Tektronix首推可选波长10 Gb/s传输测试系统 (2002.07.15)
Tektronix日前发表模块化光测试系统系列产品的加强版与新功能。光设备制造商需要密集波长分割多任务技术(Dense Wavelength Division Multiplexing, DWDM)产品,将更多信道封包输出至光纤缆线中
太克仪器操作训练课程 (二) (2002.07.12)
Tektronix将参加台北光电展及国际电信网络展 (2002.07.11)
Tektronix (太克科技)将参加台北世贸中心举办的2002 年台北光电展(8月15日至18日)及国际电信网络展(8月23日至26日),展出全系列通讯及光电设备测试量测仪器。Tektronix表示,该公司除了拥有坚强的通讯与光电测试仪器,更于近日并购了光组件测试与量测科技领导者 德国Profile 公司
Tektronix与New Wave发表新一代计算机架构的测试软件组件 (2002.06.18)
Tektronix(太克科技)以及总线分析产品主要提供者New Wave 近日共同发表新一代计算机架构的三种侦错软件组件。SODIMM、SODIMMDDR及MiniPCI具备低成本、模块化及体积小等优点,因此已是日益普及的计算机总线架构
USB-IF认可Tektronix USB 2.0符合性测试组件 (2002.06.07)
太克科技(Tektronix)日前宣布,其USB 2.0符合性测试组件、示波器及探棒已取得Universal Serial Bus Implementers Forum (USB-IF) 的USB 2.0符合性测试认可。取得USB-IF认可的Tektronix TDSUSB2测试组件配合TDS7000系列数字荧光示波器DPO,是业界最完善的USB 2.0符合性测试解决方案
Tektronix迈入光学组件及DWDM物理层测试 (2002.05.09)
Tektronix(太克科技)日前发表光学测试系统物理层量测应用之新系列产品,它为密集波长分割多任务 (DWDM) 组件及网络组件的光学设备制造商设定高准确度、高分辨率,及高生产率之新效能测试

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1 太克最新3系列4系列示波器 为快速准确而生

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