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Tektronix展示為資料中心網路開發的最新光學測試創新技術 (2017.03.17) Tektronix在OFC 2017上將展示100G、400G標準光學量測技術的最新發展,以及支援多OMA系統的光學調變分析軟體的端對端示範?
全球量測解決方案供應商Tektronix(太克科技)將在OFC 2017上展示為資料中心網路所開發的最新光學通訊測試技術,OFC 2017是專為全球光學通訊和網路專業人士所舉辦的研討會 |
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Tektronix邁入光學元件及DWDM實體層測試 (2002.05.09) Tektronix(太克科技)日前發表光學測試系統實體層量測應用之新系列產品,它為密集波長分割多工 (DWDM) 元件及網路元件的光學設備製造商設定高準確度、高解析度,及高生產率之新效能測試 |
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