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CTIMES / Sick
科技
典故
第一顆電晶體(Transistor)的由來

第二次世界大戰末期,貝爾實驗室開始一項研究計畫,目標是研發出一種體積更小、功能更強大、更快速且可靠的裝置來取代真空管。1947年12月23日,由貝爾實驗室研發的電晶體取代了真空管,優點是體積更小、更可靠、且成本低廉,不僅孕育了今日遍及全球的電子半導體產業,同時也促成電訊電腦業、醫學、太空探測等領域產生戲劇性的改變。
SICK W10直接反射式光電感測器提升物體檢測多樣性 (2024.02.26)
西克(SICK)推出一款多合一,一對多的W10直接反射式光電感測器,全能特性能夠完成自動化領域的多元檢測任務。此光電感測器包含四種型號,各有不同的工作距離與安裝方式
艾訊整合SICK(西克)工業相機效能 提升機器視覺方案品質 (2021.06.10)
如何妥善進行工業影像處理為智慧製造過程中的重要環節之一,也連帶影響了工廠自動化檢測和測量任務成效。艾訊公司(Axiomtek)與SICK (西克)建立合作夥伴關係。雙方合作有助於優化製造商與系統整合商生產過程的自動監控,進一步提高產量、降低缺陷率,並持續提供高品質產品
看數位化平台整合智動設備與元件(中) (2017.09.30)
回顧過去一年來,隨著台灣出口持續增溫,並受惠於工業4.0及蘋果iPhone旗艦新機話題不斷,從半導體、電子代工龍頭到上下游產業鏈帶動升級的龐大商機,也帶動新一波智慧製造需求
亞洲工業4.0智慧製造系列展特別報導之三 (2016.10.06)
新政府就任後,新推出5大創新產業裡的「智慧機械」,以朝向德國工業4.0為最終目標,在2016年展場上,也可見到國內外大廠分別提出最佳解決方案。

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