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CTIMES / Ultra-fine Pitch
科技
典故		 電子工業改革與創新者 - IEEE

IEEE的創立，是在於主導電子學的地位、促進電子學的創新，與提供會員實質上的協助。
Ultra-Fine Pitch高速多晶粒測試介面 將成10奈米以下晶圓最佳測試方案 (2019.03.22)
隨著終端電子產品高效能及低功耗訴求，採用先進製程技術之產品日益增多，當製程技術演進至10奈米以下，相對地為IC良率把關之晶圓測試介面更顯重要，檢測技術也需隨之提升

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