量测光纤被动元件的特性时，极化相依损耗（PDL）已经成了标准的量测项目。目前有两种普遍采用的方法可以量测PDL：极化扫描方法Polarization Scanning Technique以及四态方法（four-state method通常也称为Mueller方法）。

本篇文章将简单介绍这两种量测方法，及其主要的量测挑战和不确定度的来源，同时还会比较两者在目前被动元件测试上的实际应用。

极化相依损耗
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