内存测试挑战十足

当前内存组件市场的不确定性或许是有史以来最高的。在生产制造端，选用能因应不同需求、且能弹性地调整适用于不同产品的设备，有助于克服种种的不确定性。内存测试业面临的不确定性有很多种形式，接脚数的改变即是一种，诸如晶圆测试（Wafer Sort）、良品裸晶（Known Good Die）和主要的终程测试（Final Test）等测试策略，甚至包含DRAM、闪存和多芯片封装（MCP）等组件技术也是不确定的因素。

在使用年限内，能随着测试需求的改变而调整因应的测试系统，才能对抗不确定性，尽管如此，不论在任何情况下，有效的测试系统都必须压低测试的成本（COT）。
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