帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
Tektronix再獲600萬美元訂單
IE公司採購高速光纖測試設備

【CTIMES/SmartAuto 羅智銘 報導】   2000年06月15日 星期四

瀏覽人次:【2412】

Tektronix宣佈,世界性電信測試系統大廠Instrumentation Engineering, Inc.(IE)訂購了價值600萬美元的Tektronix多通道高速光纖測試儀器,將會應用在其IE Convergence系列光學測試解決方案。這個系列是Iinstrumentation Engineering最新的可自訂自動化測試設備(Automated Test Equipmetn;ATE)系統,兩者結合的解決方案建立了完整的光學測試平台,讓全球的電信設備廠商都能夠在製造過程中測試光學元件的效能和要求標準。

Tektronix通訊事業部副總裁Scott Bausback表示:「Tektronix一向致力為全球的電信與電腦業提供最先進的測試、量測及監測解決方案,和Instrumentation Engineering的合作,將會為製造最新光學網路基礎結構建構區塊的廠商提供最合乎成本效益的完整測試平台。」

Instrumentation Engineering, Inc.總裁Kenneth Carroll指出:「IE Convergence系列ATE系統為光學網路供應商提供了完全自訂的單一整合平台,能夠進行最重要的測試量測。在Tektronix設備的輔助之下,整套測試系統將可以協助設備製造商縮短所有產品的測試時間,加快上市時程。」

IE將採用Tektronix的光學頻譜分析儀、通訊訊號分析儀及SONET/SDH分析儀等光學測試儀器協助電信設備製造商執行一切必要的重要測試,包括驗證SONET/SDN系統光學放大器的效能,進行眼狀圖測試以及規格/效能測試。

關鍵字: 光學頻譜分析儀  通訊訊號分析儀  SONET/SDH分析儀  光學放大器  太克科技  Instrumentation Engineering  Scott Bausback  影音測試分析儀器 
相關新聞
Tektronix電源儀表新突破 協助客戶在日益電氣化的世界快速創新
Tektronix頻譜分析儀軟體5.4版 可提升工程師多重訊號分析能力
太克收購EA Elektro-Automatik 擴展電源產品組合
太克推出適用於測試儀器的開放原始碼Python原始驅動程式套件
太克推出S530參數測試系統 加速半導體晶片生產
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.136.19.124
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw