帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
安捷倫發表信號完整性分析系列應用手冊
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎 報導】   2007年09月06日 星期四

瀏覽人次:【2161】

安捷倫免費提供有關信號完整性分析的三部曲系列應用手冊。這三本有關信號完整性的應用手冊是非常實用的工具書,有助於產生topology model(架構模型)、S參數行為模型、分析上升時間惡化的特性、互連頻寬、近端和遠端的串音、odd mode(奇模)、even mode(偶模)、差模與共模阻抗、模態轉換、以及完整地分析差動通道的特性。此系列應用手冊主要著墨的重點在於如何運用簡單的方法,迅速取得寶貴的資訊,以協助您第一次就將設計做對做好,儘量減少反覆設計的次數。

第一部曲探討的是時域反射儀(TDR),本文將說明何以TDR不光只是一個用以瞭解傳輸線的阻抗不連續性的簡單雷達站而已,TDR還可以運用在超過 40種特性量測、modeling(模型化)、以及模擬的應用中。

第二部曲探討的是4埠的TDR,並搭配向量網路分析儀(VNA)和安捷倫的實體層測試系統(PLTS)使用。本文將介紹如何搭配VNA,運用4埠的TDR來進行高速與數位設計中,超過100種重要的特性量測、模型化、以及模擬等應用。另外,也說明了如何運用PLTS應用軟體進行互連分析,加上容易使用的TDR,充分發揮出VNA的威力。

第三部曲探討的是反嵌入的主題,本文將詳細介紹何以反嵌入法是先進的信號完整性量測及校驗應用中,常採用的一種基本而重要的誤差修正方法。文中會就幾種不同的誤差修正方法與反嵌入法相互比較,主要的目標是要將測試夾具造成的artifact(假象波形)減到最少,例如注入損耗、反射和相位誤差等。歡迎您到上網免費下載 www.agilent.com/find/plts 或 www.agilent.com/find/multiport

關鍵字: 安捷倫(Agilent
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.18.189.186.247
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw