NI国家仪器推出 NI PXIe-6570 数位波形仪器与 NI Digital Pattern Editor。此产品让RFIC、电源管理 IC、MEMS 装置与混合讯号 IC 的制造商不再受限于传统半导体自动化测试设备 (ATE) 的封闭架构。

数位仪器提供智慧型半导体测试系统开发所需的软硬体功能

最新半导体装置的需求不断超出传统 ATE 的测试范围。藉由引进半导体产业所建立的数位测试范例至半导体测试系统(STS) 采用的开放式PXI 平台中，并运用强大好用的波形编辑器与除错工具加以改良，使用者便能利用最先进的PXI 仪器减少测试成本，并提升RF 与类比?主IC 的传输率。

「PXI Digital Pattern Instrument 对STS而言相当重要，此仪器提供工程师他们原先以?仅有高阶数位测试平台才具备的所有数位功能。」NI 半导体测试副理Ron Wolfe 如此表示：「产线上的PXI 只要具备此项功能，工程师便能满足先进装置在价格与测试上的需求，并且轻松套用至自身目录的其他产品。」

NI PXIe-6570 数位波形仪器针对无线装置供应链与物联网装置上常见的 IC，提供所需的测试功能与实惠的价格 (以每针脚计算)。此仪器运用独立电源与撷取引擎，能够以每秒 100 MVector 的速度执行波形，并且具备可在单一子系统中达成高达 256 个同步数位针脚的电压/电流参数函式。使用者能够利用 PXI 与 STS 的开放特性，依据需求新增无限多个装置，借以达成测试设定的针脚与地点数量需求。

全新Digital Pattern Editor 软体整合数位pin map 的编辑环境、规格与波形，进而能以更快的速度开发测试计画；多点与多重仪器波形激发等内建工具，可顺畅从开发扩展至生产；shmoo plot 等工具与互动式pin view 则可提升除错与优化测试的效率。

使用相同的PXI硬体、TestStand、LabVIEW与Digital Pattern Editor 软体执行特性测试与生产测试有助减少简化资料关联流程，帮助使用者缩减上市时间。 PXI 硬体的小巧机身，不论是否包含在 STS 设定内，皆可节省产线空间并能以特性测试实验室机台的标准电源运作。

「PXI确实是一套相当罕见的软硬体组合，不论在产线还是在特性生产实验室皆能顺利运作。」Wolfe 继续表示：「NI 数位波形仪器与Digital Pattern Editor 所提供的重要创新能够帮助装置制造商与测试厂商降低测试成本并提升测试程式的开发作业。」

半导体公司现正采用NI平台与生态系统来建造智慧型测试系统。除了可立即用于生产的STS 系列之外，1 GHz 频宽的向量讯号收发器(VST)、fA 系列电源量测单元与TestStand Semiconductor Module，这些系统皆受惠于DC、mmWave 等600 多种PXI 产品。 VST 结合时序与触发功能，透过 PCI Express Gen 3 汇流排介面与亚毫微秒等级的同步化功能，达成高速资料传输。 利用LabVIEW 的产能、TestStand 的软体环境、合作伙伴构成的活跃生态系统、附加IP 与应用工程师，便能降低测试成本、缩短产品上市时间，并确保测试器能够因应RF 与混合讯号严苛的测试需求。