安捷伦科技(Agilent)宣布，为协助从事设计与微控制器有关产品或在类比、数位混合环境中从事设计的工程师，面对快速变迁的技术与愈来愈复杂的量测挑战，该公司将于10月17日至19日分别在高雄、台北与新竹三地举办微控制器测试研讨会，以协助设计工程师拥​​有最新的类比、数位混合的除错量测技术。

安捷伦表示，此次研讨会内容将针对触发微处理器I/O汇流排上的数位讯号、使用时间筛选触发功能与复杂的PWM讯号同步、突波干扰讯号的除错及触发、系统启动时对电源信号的分析做重点介绍。更透过实际操作量测仪器，即提供一个实际的实验室环境，与会者可以在此学习如何使用混合信号示波器，快速撷取类比与数位混合信号，并对此信号执行特性分析。