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爱德万测试XPS256电源供应卡获半导体制造商采用投入量产测试
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2021年01月13日 星期三

浏览人次:【7185】

藉由通用DPS引脚可满足关键资料处理应用时所需的百万兆级电源需求。

爱德万测试XPS256电源供应卡能提供革命性探针保护,并针对整体测试流程的电流与电压进行零负荷背景分析。(source:Advantest)
爱德万测试XPS256电源供应卡能提供革命性探针保护,并针对整体测试流程的电流与电压进行零负荷背景分析。(source:Advantest)

(日本东京讯)半导体测试设备供应商爱德万测试(Advantest)於今(1/13)宣布,旗下搭配V93000 EXA Scale系统单晶片(SoC)测试系统而开发之DC Scale XPS256 (DPS) 电源供应卡,快速获得通讯处理器大厂采用,投入量产测试。XPS256创业界之先提供通用DPS引脚功能,能针对各式各样的资料处理应用提供高精确度、高效能及快速动态回应的解决方案。

行动/宽频通讯、高效能运算(HPC)和人工智慧(AI)等关键市场的蓬勃发展,推动了产业对於海量资料的需求,而XPS256能够满足业界对於相关测试效能的迫切需求而设计,并借由爱德万测试Xtreme Link技术,使系统具备最隹化的弹性与扩充性。

XPS256能满足现今各式广泛的电流需求,提供不受限的合夥(ganging)能力,小至数豪安培、大至数千安培,效能都不会受到任何影响。这款结合三种仪器的单一电源供应卡,藉由爱德万测试Xtreme Regulation技术支援,其DPS引脚能提供同级最隹弹性、准确度 (+/- 150μV) 与动态回应表现,同时具备完整四象限电压电流 (VI) 功能和极小的过冲/下冲量。

不仅如此,XPS256电源供应卡还能提供革命性探针保护,并针对整体测试流程的电流与电压进行零负荷背景分析 (background profiling);提供细微式电源供应以确保针与针之间的电流平衡;还具备线上接触电阻的监控以便适时反映清针与预防性维修作业所需。XPS256的超高速硬件箝制 (hardware clamp) 设计也能保护DUT、探针卡和测试座免於受到热失控影响。

爱德万测试SoC资深??总Richard Junger表示:「XPS256搭配V93000 EXA Scale SoC测试机,为迈入百万兆级运算领域的客户献上理想解决方案,提供超高全晶圆测试良率、极快速测试时间、以及可靠且一致的测试结果。」

爱德万测试已向多家客户出货上百张 DC Scale XPS256 DPS卡。

關鍵字: 电源供应卡  半導體測試  愛德萬 
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