身为平台式系统供应商，NI（国家仪器）不断致力于协助工程师与科学家，解决当今全球最艰巨的工程挑战。而看准复杂且日新月异的智慧装置市场，正驱动着半导体设备商对多重测试的强劲需求，NI也藉由于2016 Semicon Taiwan的机会，祭出三大半导体测试解决方案，包括可搭配半导体测试系统（ STS）使用的高功率RF模组、ATE等级的PXIe-6570数位波形仪器，以及兼具速度与灵敏度的PXIe-4135电源量测单元（SMU）。

NI 于2016 Semicon Taiwan展期祭出三大半导体测试解决方案

国家仪器技术行销经理潘建安指出，随着整合到RF前端模组的零组件越来越多，市场对高功率RF测试有极大的需求。 NI半导体测试系统（STS）全新的RF功能在RF盲插状态时，能够以+38 dBm的速率传输，并以+40 dBm的速率接收，是目前市场上第一个商用化，且不用亲自建置高功率模组的唯一解决方案。此外，STS可透过全功能软体执行26GHz的S参数量测、FPGA架构的Real-Time封包追踪及数位失真，满足RF与混合讯号装置制造商千变万化的测试需求，还可为企业降低测试成本且无须牺牲量测的精准度与效能。

而为了让半导体测试的产品选择更加完整，NI亦推出PXIe-6570数位波形仪器与NI Digital Pattern Editor，将高阶数位测试平台才具备的数位测试功能，引进到开放式的PXI平台中，让工程师可妥善运用波形编辑器与除错工具降低整体的测试成本、提升RF与类比IC的传输率，并让电源管理IC、MEMS装置与混合讯号IC制造商，突破传统半导体自动化测试设备的封闭架构，成为PXI上第一个具备ATE等级的数位仪器，有助于企业缩短产品的上市时程。

而在半导体的电源量测方面，NI PXIe-4135 SMU具备10 fA的高灵敏度与高达200V的电压输出，可测试低电流讯号并进行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与各种IC特性测试。此外，工程师还可透过模组化的PXI SMU打造体积精巧、平行的多通道数系统，同时享有多达68个SMU通道的单一PXI机箱，能够针对数百个通道执行晶圆稳定性测试与平行测试。

潘建安说，透过NI的三大半导体测试解决方案，半导体设备商可享有最即时的世界级测试服务，让企业得以从仪器商定义测试内容的封闭式测试解决方案，迈向更开放的模组化测试平台，协助工程师使用更智慧化的半导体测试解决方案，助力客户通往智慧型半导体测试的阶段。